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Development of scanning field emission current microscopy

Development of scanning field emission current microscopy

W.H. Han; T.Y. Park; C.J. Kang; S.I. Lee; Young Jin Choi

作者W.H. Han; T.Y. Park; C.J. Kang; S.I. Lee; Young Jin Choi
卷第9卷
印刷ISSN1567-1739
文件大小422.31KB
发表时间2009
DOI10.1016/j.cap.2008.12.026

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