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Invited Review Article: A 10 mK scanning probe microscopy facility

Y. J. Song; A. F. Otte; V. Shvarts; Z. Zhao; Y. Kuk; S. R. Blankenship; A. Band; F. M. Hess; J. A. Stroscio

作者Y. J. Song; A. F. Otte; V. Shvarts; Z. Zhao; Y. Kuk; S. R. Blankenship; A. Band; F. M. Hess; J. A. Stroscio
卷第81卷
期第12期
文件大小4211.20KB
发表时间2010
DOI10.1063/1.3520482