Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope

Huber, H. P.; Moertelmaier, M.; Wallis, T. M.; Chiang, C. J.; Hochleitner, M.; Imtiaz, A.; Oh, Y. J.; Schilcher, K.; Dieudonne, M.; Smoliner, J.; Hinterdorfer, P.; Rosner, S. J.; Tanbakuchi, H.; Kabos, P.; Kienberger, F.

期刊名称Review of Scientific Instruments
作者Huber, H. P.; Moertelmaier, M.; Wallis, T. M.; Chiang, C. J.; Hochleitner, M.; Imtiaz, A.; Oh, Y. J.; Schilcher, K.; Dieudonne, M.; Smoliner, J.; Hinterdorfer, P.; Rosner, S. J.; Tanbakuchi, H.; Kabos, P.; Kienberger, F.
卷第81卷
期第11期
印刷ISSN0034-6748
文件大小5488.85KB
发表时间2010
DOI10.1063/1.3491926

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope