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Influence of Post Deposition Annealing Process on the Optical and Microwave Dielectric Properties of Bi
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Thin Films

Influence of Post Deposition Annealing Process on the Optical and Microwave Dielectric Properties of Bi _1.5 Zn _1.0 Nb _1.5 O ₇ Thin Films

Sudheendran, K.; Raju, K.C. James

期刊名称Integrated Ferroelectrics
作者Sudheendran, K.; Raju, K.C. James
卷第119卷
期第1期
印刷ISSN1058-4587
电子ISSN1607-8489
文件大小496.69KB
发表时间2010-11-12
DOI10.1080/10584587.2010.490703
页码89-95

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