Electron beam nanolithography in AZnLOF 2020
Etienne Herth; Pascal Tilmant; Marc Faucher; Marc François; Christophe Boyaval; Francois Vaurette; Yves Deblocq; Bernard Legrand; Lionel Buchaillot
- 作者Etienne Herth; Pascal Tilmant; Marc Faucher; Marc François; Christophe Boyaval; Francois Vaurette; Yves Deblocq; Bernard Legrand; Lionel Buchaillot
- 卷第87卷
- 期第11期
- 印刷ISSN0167-9317
- 文件大小616.71KB
- 发表时间2010
- DOI10.1016/j.mee.2009.12.079
- 页码2057-2060