Defects in a nitrogen-implanted ZnO thin film

• 作者Matthias Schmidt; Martin Ellguth; Florian Schmidt; Thomas Lüder; Holger v. Wenckstern; Rainer Pickenhain; Marius Grundmann; Gerhard Brauer; Wolfgang Skorupa
• 卷第247卷
• 期第5期
• 印刷ISSN0370-1972
• 电子ISSN1521-3951
• 文件大小334.93KB
• 发表时间2010
• DOI10.1002/pssb.200945534
• 页码1220-1226