Guest Editorial Special Issue on the 2010 IEEE International Instrumentation and Measurement Conference

• 作者Yeary, M.; Van Moer, W.
• 卷第60卷
• 期第5期
• 印刷ISSN0018-9456
• 电子ISSN1557-9662
• 文件大小65.01KB
• 发表时间2011
• DOI10.1109/tim.2011.2114530
• 页码1503-1504