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Junction size effect on switching current and thermal stability in CoFeB/MgO perpendicular magnetic tunnel junctions

Sato, H.; Yamanouchi, M.; Miura, K.; Ikeda, S.; Gan, H. D.; Mizunuma, K.; Koizumi, R.; Matsukura, F.; Ohno, H.

作者Sato, H.; Yamanouchi, M.; Miura, K.; Ikeda, S.; Gan, H. D.; Mizunuma, K.; Koizumi, R.; Matsukura, F.; Ohno, H.
卷第99卷
期第4期
电子ISSN0003-6951
文件大小596.00KB
发表时间2011
DOI10.1063/1.3617429