Bistability in Atomic-Scale Antiferromagnets
Loth, S.; Baumann, S.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M.; Heinrich, A. J.
- 作者Loth, S.; Baumann, S.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M.; Heinrich, A. J.
- 卷第335卷
- 期第6065期
- 印刷ISSN0036-8075
- 电子ISSN1095-9203
- 文件大小1189.02KB
- 发表时间2012
- DOI10.1126/science.1214131
- 页码196-199