Low-Noise Readout of TES Detectors with Baseband Feedback Frequency Domain Multiplexing
R. den Hartog; M. D. Audley; J. Beyer; D. Boersma; M. Bruijn; L. Gottardi; H. Hoevers; R. Hou; G. Keizer; P. Khosropanah; M. Kiviranta; P. de Korte; J. van der Kuur; B.-J. van Leeuwen; A. C. T. Nieuwenhuizen; P. van Winden
- 作者R. den Hartog; M. D. Audley; J. Beyer; D. Boersma; M. Bruijn; L. Gottardi; H. Hoevers; R. Hou; G. Keizer; P. Khosropanah; M. Kiviranta; P. de Korte; J. van der Kuur; B.-J. van Leeuwen; A. C. T. Nieuwenhuizen; P. van Winden
- 卷第167卷
- 印刷ISSN0022-2291
- 电子ISSN1573-7357
- 文件大小593.58KB
- 发表时间2012-06
- DOI10.1007/s10909-012-0577-8
- 页码652-657