发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Trapezoid defect in 4H–SiC epilayers

R.A. Berechman; S. Chung; G. Chung; E. Sanchez; N.A. Mahadik; R.E. Stahlbush; M. Skowronski

作者R.A. Berechman; S. Chung; G. Chung; E. Sanchez; N.A. Mahadik; R.E. Stahlbush; M. Skowronski
卷第338卷
期第1期
印刷ISSN0022-0248
文件大小386.34KB
发表时间2012
DOI10.1016/j.jcrysgro.2011.10.009