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Single Particle Displacement Damage in Silicon

Auden, E. C.; Weller, R. A.; Mendenhall, M. H.; Reed, R. A.; Schrimpf, R. D.; Hooten, N. C.; King, M. P.

期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
作者Auden, E. C.; Weller, R. A.; Mendenhall, M. H.; Reed, R. A.; Schrimpf, R. D.; Hooten, N. C.; King, M. P.
卷第59卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小1454.71KB
发表时间2012-12
DOI10.1109/tns.2012.2224131
页码3054-3061