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Impact of Total Ionizing Dose on the Electromagnetic Susceptibility of a Single Bipolar Transistor

Doridant, A.; Jarrix, S.; Raoult, J.; Blain, A.; Chatry, N.; Calvel, P.; Hoffmann, P.; Dusseau, L.

期刊名称IEEE Transactions on Nuclear Science
作者Doridant, A.; Jarrix, S.; Raoult, J.; Blain, A.; Chatry, N.; Calvel, P.; Hoffmann, P.; Dusseau, L.
卷第59卷
期第4期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小832.40KB
发表时间2012-08
DOI10.1109/tns.2011.2181415
页码860-865