Persistence of Covalent Bonding in Liquid Silicon Probed by Inelastic X-Ray Scattering

Okada, J. T.; Sit, P. H.-L.; Watanabe, Y.; Wang, Y. J.; Barbiellini, B.; Ishikawa, T.; Itou, M.; Sakurai, Y.; Bansil, A.; Ishikawa, R.; Hamaishi, M.; Masaki, T.; Paradis, P.-F.; Kimura, K.; Ishikawa, T.; Nanao, S.

期刊名称Physical Review Letters
作者Okada, J. T.; Sit, P. H.-L.; Watanabe, Y.; Wang, Y. J.; Barbiellini, B.; Ishikawa, T.; Itou, M.; Sakurai, Y.; Bansil, A.; Ishikawa, R.; Hamaishi, M.; Masaki, T.; Paradis, P.-F.; Kimura, K.; Ishikawa, T.; Nanao, S.
卷第108卷
期第6期
印刷ISSN0031-9007
电子ISSN1079-7114
文件大小342.49KB
发表时间2012-2-8
DOI10.1103/PhysRevLett.108.067402

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Persistence of Covalent Bonding in Liquid Silicon Probed by Inelastic X-Ray Scattering