Intrinsic Instability of Aberration-Corrected Electron Microscopes
Schramm, S. M.; van der Molen, S. J.; Tromp, R. M.
- 期刊名称Physical Review Letters
- 作者Schramm, S. M.; van der Molen, S. J.; Tromp, R. M.
- 卷第109卷
- 期第16期
- 印刷ISSN0031-9007
- 电子ISSN1079-7114
- 文件大小1562.75KB
- 发表时间2012-10-15
- DOI10.1103/physrevlett.109.163901