Influence of Gate Corrugations on the Performance of Thin-Film Transistors

• 期刊名称IEEE Electron Device Letters
• 作者Sambandan, Sanjiv
• 卷第33卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0741-3106
• 电子ISSN1558-0563
• 文件大小461.23KB
• 发表时间2012-01
• DOI10.1109/led.2011.2172675
• 页码56-58