On the T2 trap in zinc oxide thin films

• 作者Matthias Schmidt; Martin Ellguth; Robert Karsthof; Holger v. Wenckstern; Rainer Pickenhain; Marius Grundmann; Gerhard Brauer; Francis C. C. Ling
• 卷第249卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0370-1972
• 电子ISSN1521-3951
• 文件大小371.72KB
• 发表时间2012
• DOI10.1002/pssb.201147271
• 页码588-595