Delay fault testing using partial multiple scan chains

• 期刊名称Microelectronics Reliability
• 作者Bareisa, Eduardas; Jusas, Vacius; Motiejunas, Kestutis; Seinauskas, Rimantas
• 卷第53卷
• 期第12期
• 印刷ISSN0026-2714
• 文件大小554.97KB
• 发表时间2013-12
• DOI10.1016/j.microrel.2013.07.002
• 页码2070-2077