A Family of New Generation Miniaturized Impedance Analyzers for Technical Object Diagnostics
- 期刊名称Metrology and Measurement Systems
- 作者Hoja, Jerzy; Lentka, Grzegorz
- 卷第20卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0860-8229
- 文件大小1195.95KB
- 发表时间2013-01-1
- DOI10.2478/mms-2013-0004
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