Progress in SiC MOSFET Reliability
Hughart, D. R.; Flicker, J. D.; DasGupta, S.; Atcitty, S.; Kaplar, R. J.; Marinella, M. J.
- 期刊名称ECS Transactions
- 作者Hughart, D. R.; Flicker, J. D.; DasGupta, S.; Atcitty, S.; Kaplar, R. J.; Marinella, M. J.
- 卷第58卷
- 期第4期
- 印刷ISSN1938-6737
- 电子ISSN1938-5862
- 文件大小689.01KB
- 发表时间2013-08-31
- DOI10.1149/05804.0211ecst
- 页码211-220