Fabrication and characterization of semiconducting half-Heusler YPtSb thin films
- 期刊名称physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters
- 作者Shan, Rong; Vilanova, Enrique V.; Qin, Juan; Casper, Frederick; Fecher, Gerhard H.; Jakob, Gerhard; Felser, Claudia
- 卷第7卷
- 印刷ISSN1862-6254
- 文件大小315.12KB
- 发表时间2013-02
- DOI10.1002/pssr.201206413
- 页码145-147
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