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PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits

PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits

Sharma, Vijay Kumar; Pattanaik, Manisha; Raj, Balwinder
  • 期刊名称Microelectronics Reliability
  • 作者Sharma, Vijay Kumar; Pattanaik, Manisha; Raj, Balwinder
  • 卷第54卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0026-2714
  • 文件大小1845.62KB
  • 发表时间2014-1
  • DOI10.1016/j.microrel.2013.09.018
  • 页码90-99
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