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A tale of two technology disruptions

A tale of two technology disruptions

Bergman, Keren
  • 期刊名称IEEE Design & Test
  • 作者Bergman, Keren
  • 卷第31卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN2168-2356
  • 电子ISSN2168-2364
  • 文件大小77.18KB
  • 发表时间2014-10
  • DOI10.1109/mdat.2014.2355093
  • 页码87-88
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