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Sn whisker evaluations in 3D microbumped structures

Vakanas, G.P.; Vandecasteele, B.; Schaubroek, D.; De Messemaeker, J.; Willems, G.; Ashworth, M.A.; Wilcox, G.D.; De Wolf, I.

期刊名称Microelectronics Reliability
作者Vakanas, G.P.; Vandecasteele, B.; Schaubroek, D.; De Messemaeker, J.; Willems, G.; Ashworth, M.A.; Wilcox, G.D.; De Wolf, I.
卷第54卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小3386.01KB
发表时间2014-09
DOI10.1016/j.microrel.2014.07.110
页码1982-1987