(Invited) Scanning Probe Microscopes for Subsurface Imaging
Kopanski, J. J.; You, L.; Ahn, J.-J.; Hitz, E.; Obeng, Y. S.
- 期刊名称ECS Transactions
- 作者Kopanski, J. J.; You, L.; Ahn, J.-J.; Hitz, E.; Obeng, Y. S.
- 卷第61卷
- 期第2期
- 印刷ISSN1938-6737
- 电子ISSN1938-5862
- 文件大小514.45KB
- 发表时间2014-03-24
- DOI10.1149/06102.0185ecst
- 页码185-193