Real array pattern tolerances from amplitude excitation errors
- 期刊名称IEICE Electronics Express
- 作者Moriyama, Toshifumi; Poli, Lorenzo; Anselmi, Nicola; Salucci, Marco; Rocca, Paolo
- 卷第11卷
- 期第17期
- 电子ISSN1349-2543
- 文件大小3378.78KB
- 发表时间2014
- DOI10.1587/elex.11.20140571
- 页码20140571-20140571