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Multiburst Location Optical Testing Method and Target Damage Efficiency Assessment Arithmetic

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Li, Hanshan; Li, Yao
  • 期刊名称IEEE Sensors Journal
  • 作者Li, Hanshan; Li, Yao
  • 卷第15卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN1530-437X
  • 电子ISSN1558-1748
  • 文件大小1776.26KB
  • 发表时间2015-1
  • DOI10.1109/jsen.2014.2341295
  • 页码240-247
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