Temperature dependences of the contact resistivity in ohmic contacts ton+-InN

Sachenko, A. V.; Belyaev, A. E.; Boltovets, N. S.; Brunkov, P. N.; Jmerik, V. N.; Ivanov, S. V.; Kapitanchuk, L. M.; Konakova, R. V.; Klad’ko, V. P.; Romanets, P. N.; Saja, P. O.; Safryuk, N. V.; Sheremet, V. N.

期刊名称Semiconductors
作者Sachenko, A. V.; Belyaev, A. E.; Boltovets, N. S.; Brunkov, P. N.; Jmerik, V. N.; Ivanov, S. V.; Kapitanchuk, L. M.; Konakova, R. V.; Klad’ko, V. P.; Romanets, P. N.; Saja, P. O.; Safryuk, N. V.; Sheremet, V. N.
卷第49卷
期第4期
印刷ISSN1063-7826
电子ISSN1090-6479
文件大小1125.89KB
发表时间2015-4
DOI10.1134/s1063782615040193
页码461-471

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Temperature dependences of the contact resistivity in ohmic contacts ton+-InN