The effect of wavefront aberrations in atom interferometry
Schkolnik, V.; Leykauf, B.; Hauth, M.; Freier, C.; Peters, A.
- 期刊名称Applied Physics B
- 作者Schkolnik, V.; Leykauf, B.; Hauth, M.; Freier, C.; Peters, A.
- 卷第120卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0946-2171
- 电子ISSN1432-0649
- 文件大小1372.94KB
- 发表时间2015-8
- DOI10.1007/s00340-015-6138-5
- 页码311-316