Effects of CuO film thickness on electrical properties of CuO/ZnO and CuO/ZnS hetero-junctions
Chabane, L.; Zebbar, N.; Zeggar, M. Lamri; Aida, M.S.; Kechouane, M.; Trari, M.
- 期刊名称Materials Science in Semiconductor Processing
- 作者Chabane, L.; Zebbar, N.; Zeggar, M. Lamri; Aida, M.S.; Kechouane, M.; Trari, M.
- 卷第40卷
- 印刷ISSN1369-8001
- 文件大小1171.10KB
- 发表时间2015-12
- DOI10.1016/j.mssp.2015.07.080
- 页码840-847