Rating scales to measure side effects of antipsychotic medication: A systematic review
van Strien, A. M.; Keijsers, C. J.; Derijks, H. J.; van Marum, R. J.
- 期刊名称Journal of Psychopharmacology
- 作者van Strien, A. M.; Keijsers, C. J.; Derijks, H. J.; van Marum, R. J.
- 卷第29卷
- 期第8期
- 印刷ISSN0269-8811
- 电子ISSN1461-7285
- 文件大小448.65KB
- 发表时间2015-08-01
- DOI10.1177/0269881115593893
- 页码857-866