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Dynamic IEEE Test Systems for Transient Analysis

Dynamic IEEE Test Systems for Transient Analysis

P. Demetriou; M. Asprou; J. Quiros-tortos; E. Kyriakides

作者P. Demetriou; M. Asprou; J. Quiros-tortos; E. Kyriakides
文件大小2789.47KB
发表时间2015
DOI10.1109/JSYST.2015.2444893

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