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Cutting Edge: Resident Memory CD8 T Cells Express High-Affinity TCRs

Cutting Edge: Resident Memory CD8 T Cells Express High-Affinity TCRs

Frost, E. L.; Kersh, A. E.; Evavold, B. D.; Lukacher, A. E.

期刊名称The Journal of Immunology
作者Frost, E. L.; Kersh, A. E.; Evavold, B. D.; Lukacher, A. E.
印刷ISSN0022-1767
电子ISSN1550-6606
文件大小1054.30KB
发表时间2015-09-14
DOI10.4049/jimmunol.1501521

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