Modeling of Atomic Migration Phenomena in Phase Change Memory Devices

• 作者L. Crespi; A. Lacaita; M. Boniardi; E. Varesi; A. Ghetti; A. Redaelli; G. D'arrigo
• 文件大小1092.77KB
• 发表时间2015
• DOI10.1109/IMW.2015.7150296