based on film and slice bismuth samples at room temperature
Zhao, Q. Z.; Wang, X. M.; Wang, W.; He, M.; Dong, K. J.; Xiao, C. J.; Ruan, X. D.; Shen, H. T.; Wu, S. Y.; Yang, X. R.; Dou, L.; Xu, Y. N.; Cai, L.; Pang, F. F.; Zhang, H.; Pang, Y. J.; Jiang, S.
- 期刊名称Physical Review C
- 作者Zhao, Q. Z.; Wang, X. M.; Wang, W.; He, M.; Dong, K. J.; Xiao, C. J.; Ruan, X. D.; Shen, H. T.; Wu, S. Y.; Yang, X. R.; Dou, L.; Xu, Y. N.; Cai, L.; Pang, F. F.; Zhang, H.; Pang, Y. J.; Jiang, S.
- 卷第92卷
- 期第5期
- 印刷ISSN0556-2813
- 电子ISSN1089-490X
- 文件大小241.76KB
- 发表时间2015-11-20
- DOI10.1103/PhysRevC.92.054616