based on film and slice bismuth samples at room temperature

Zhao, Q. Z.; Wang, X. M.; Wang, W.; He, M.; Dong, K. J.; Xiao, C. J.; Ruan, X. D.; Shen, H. T.; Wu, S. Y.; Yang, X. R.; Dou, L.; Xu, Y. N.; Cai, L.; Pang, F. F.; Zhang, H.; Pang, Y. J.; Jiang, S.

期刊名称Physical Review C
作者Zhao, Q. Z.; Wang, X. M.; Wang, W.; He, M.; Dong, K. J.; Xiao, C. J.; Ruan, X. D.; Shen, H. T.; Wu, S. Y.; Yang, X. R.; Dou, L.; Xu, Y. N.; Cai, L.; Pang, F. F.; Zhang, H.; Pang, Y. J.; Jiang, S.
卷第92卷
期第5期
印刷ISSN0556-2813
电子ISSN1089-490X
文件大小241.76KB
发表时间2015-11-20
DOI10.1103/PhysRevC.92.054616

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