Pattern Overlap and High Resolution Electron Backscatter Diffraction
- 期刊名称Microscopy and Microanalysis
- 作者Tong, Vivian; Jiang, Jun; Wilkinson, Angus; Britton, Ben
- 卷第21卷
- 印刷ISSN1431-9276
- 电子ISSN1435-8115
- 文件大小271.54KB
- 发表时间2015-08
- DOI10.1017/s1431927615011009
- 页码2045-2046
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