Effect of Interstitial Mg in Mg2+xSi on Electrical Conductivity and Seebeck Coefficient

• 期刊名称Journal of Electronic Materials
• 作者Kubouchi, M.; Ogawa, Y.; Hayashi, K.; Takamatsu, T.; Miyazaki, Y.
• 卷第45卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0361-5235
• 电子ISSN1543-186X
• 文件大小1095.00KB
• 发表时间2016-3-19
• DOI10.1007/s11664-015-4126-5
• 页码1589-1593