Discussion of the importance of the refraction effects for RHEED
Mitura, Zbigniew; Szczypiński, Michał M.; Mitura, Stanisław
- 期刊名称Applied Surface Science
- 作者Mitura, Zbigniew; Szczypiński, Michał M.; Mitura, Stanisław
- 印刷ISSN0169-4332
- 文件大小637.78KB
- 发表时间2016-11
- DOI10.1016/j.apsusc.2016.11.126