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Martino, Catello Di; Sarkar, Santonu; Ganesan, Rajeshwari; Kalbarczyk, Zbigniew T.; Iyer, Ravishankar K.

期刊名称IEEE Transactions on Reliability
作者Martino, Catello Di; Sarkar, Santonu; Ganesan, Rajeshwari; Kalbarczyk, Zbigniew T.; Iyer, Ravishankar K.
卷第66卷
期第1期
印刷ISSN0018-9529
电子ISSN1558-1721
文件大小2577.53KB
发表时间2017-3
DOI10.1109/TR.2016.2635033
页码54-75