Precision half-life measurement of

Long, J.; Ahn, T.; Allen, J.; Bardayan, D. W.; Becchetti, F. D.; Blankstein, D.; Brodeur, M.; Burdette, D.; Frentz, B.; Hall, M. R.; Kelly, J. M.; Kolata, J. J.; O'Malley, P. D.; Schultz, B. E.; Strauss, S. Y.; Valverde, A. A.

期刊名称Physical Review C
作者Long, J.; Ahn, T.; Allen, J.; Bardayan, D. W.; Becchetti, F. D.; Blankstein, D.; Brodeur, M.; Burdette, D.; Frentz, B.; Hall, M. R.; Kelly, J. M.; Kolata, J. J.; O'Malley, P. D.; Schultz, B. E.; Strauss, S. Y.; Valverde, A. A.
卷第96卷
期第1期
印刷ISSN2469-9985
电子ISSN2469-9993
文件大小581.86KB
发表时间2017-7-12
DOI10.1103/PhysRevC.96.015502

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Precision half-life measurement of