An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC

Appello, Davide; Bugeja, Conrad; Pollaccia, Giorgio; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Restifo, Marco; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico

期刊名称IEEE Design & Test
作者Appello, Davide; Bugeja, Conrad; Pollaccia, Giorgio; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Restifo, Marco; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico
卷第35卷
期第3期
印刷ISSN2168-2356
电子ISSN2168-2364
文件大小766.76KB
发表时间2018-6
DOI10.1109/MDAT.2018.2799807
页码46-53

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