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Systematic calibration of drift diffusion model for InGaAs MOSFETs in quasi-ballistic regime

Di, Shaoyan; Shen, Lei; Chang, Pengying; Zhao, Kai; Lu, Tiao; Du, Gang; Liu, Xiaoyan

期刊名称Science China Information Sciences
作者Di, Shaoyan; Shen, Lei; Chang, Pengying; Zhao, Kai; Lu, Tiao; Du, Gang; Liu, Xiaoyan
卷第62卷
期第6期
印刷ISSN1674-733X
电子ISSN1869-1919
文件大小252.16KB
发表时间2019-6
DOI10.1007/s11432-017-9472-x