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Mapping high R&D city-regions worldwide: a patent heat map approach

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Stek, Pieter E.
  • 期刊名称Quality & Quantity
  • 作者Stek, Pieter E.
  • 印刷ISSN0033-5177
  • 电子ISSN1573-7845
  • 文件大小1738.22KB
  • 发表时间2019-4-11
  • DOI10.1007/s11135-019-00874-w
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