Search for dark matter with a 231-day exposure of liquid argon using DEAP-3600 at SNOLAB

• 期刊名称Physical Review D
• 作者Ajaj, R.; Amaudruz, P.-A.; Araujo, G. R.; Baldwin, M.; Batygov, M.; Beltran, B.; Bina, C. E.; Bonatt, J.; Boulay, M. G.; Broerman, B.; Bueno, J. F.; Burghardt, P. M.; Butcher, A.; Cai, B.; Cavuoti, S.; Chen, M.; Chen, Y.; Cleveland, B. T.; Cranshaw, D.; Dering, K.; DiGioseffo, J.; Doria, L.; Duncan, F. A.; Dunford, M.; Erlandson, A.; Fatemighomi, N.; Fiorillo, G.; Florian, S.; Flower, A.; Ford, R. J.; Gagnon, R.; Gallacher, D.; Garcés, E. A.; Garg, S.; Giampa, P.; Goeldi, D.; Golovko, V. V.; Gorel, P.; Graham, K.; Grant, D. R.; Hallin, A. L.; Hamstra, M.; Harvey, P. J.; Hearns, C.; Joy, A.; Jillings, C. J.; Kamaev, O.; Kaur, G.; Kemp, A.; Kochanek, I.; Kuźniak, M.; Langrock, S.; La Zia, F.; Lehnert, B.; Li, X.; Lidgard, J.; Lindner, T.; Litvinov, O.; Lock, J.; Longo, G.; Majewski, P.; McDonald, A. B.; McElroy, T.; McGinn, T.; McLaughlin, J. B.; Mehdiyev, R.; Mielnichuk, C.; Monroe, J.; Nadeau, P.; Nantais, C.; Ng, C.; Noble, A. J.; O’Dwyer, E.; Ouellet, C.; Pasuthip, P.; Peeters, S. J. M.; Piro, M.-C.; Pollmann, T. R.; Rand, E. T.; Rethmeier, C.; Retière, F.; Seeburn, N.; Singhrao, K.; Skensved, P.; Smith, B.; Smith, N. J. T.; Sonley, T.; Soukup, J.; Stainforth, R.; Stone, C.; Strickland, V.; Sur, B.; Tang, J.; Vázquez-Jáuregui, E.; Veloce, L.; Viel, S.; Walding, J.; Waqar, M.; Ward, M.; Westerdale, S.; Willis, J.; Zuñiga-Reyes, A.
• 卷第100卷
• 期第2期
• 印刷ISSN2470-0010
• 电子ISSN2470-0029
• 文件大小3153.93KB
• 发表时间2019-7-24
• DOI10.1103/PhysRevD.100.022004