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Test Pattern Generator for MV-Based QCA Combinational Circuit Targeting MMC Fault Models

Test Pattern Generator for MV-Based QCA Combinational Circuit Targeting MMC Fault Models

Dhare, Vaishali; Mehta, Usha
  • 期刊名称IETE Journal of Research
  • 作者Dhare, Vaishali; Mehta, Usha
  • 印刷ISSN0377-2063
  • 电子ISSN0974-780X
  • 文件大小1647.51KB
  • 发表时间2019-10-17
  • DOI10.1080/03772063.2019.1674195
  • 页码1-11
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