Precision half-life measurement of

Long, J.; Brodeur, M.; Baines, M.; Bardayan, D. W.; Becchetti, F. D.; Blankstein, D.; Boomershine, C.; Burdette, D. P.; Clark, A. M.; Frentz, B.; Henderson, S. L.; Kelly, J. M.; Kolata, J. J.; Liu, B.; Macon, K. T.; O'Malley, P. D.; Pardo, A.; Seymour, C.; Strauss, S. Y.; Vande Kolk, B.

期刊名称Physical Review C
作者Long, J.; Brodeur, M.; Baines, M.; Bardayan, D. W.; Becchetti, F. D.; Blankstein, D.; Boomershine, C.; Burdette, D. P.; Clark, A. M.; Frentz, B.; Henderson, S. L.; Kelly, J. M.; Kolata, J. J.; Liu, B.; Macon, K. T.; O'Malley, P. D.; Pardo, A.; Seymour, C.; Strauss, S. Y.; Vande Kolk, B.
卷第101卷
期第1期
印刷ISSN2469-9985
电子ISSN2469-9993
文件大小1449.73KB
发表时间2020-1-2
DOI10.1103/PhysRevC.101.015501

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Precision half-life measurement of