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Proceedings of the Electron Microscope Society of America

Proceedings of the Electron Microscope Society of America

Ziying Gu, ; Weifan Chen, ; Ying Wang, ; Yongxiu Li,

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Ziying Gu, ; Weifan Chen, ; Ying Wang, ; Yongxiu Li,
卷第32卷
期第8期
印刷ISSN0021-8979
文件大小2363.86KB
发表时间1961
DOI10.1063/1.1728411

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