![Electron-Induced Single-Event Upsets in Static Random Access Memory]()
Electron-Induced Single-Event Upsets in Static Random Access MemoryKing, M. P.; Reed, R. A.; Weller, R. A.; Mendenhall, M. H.; Schrimpf, R. D.; Sierawski, B. D.; Sternberg, A. L.; Narasimham, B.; Wang, J. K.; Pitta, E.; Bartz, B.; Reed, D.; Monzel, C.; Baumann, R. C.; Deng, X.; Pellish, J. A.; Berg, M. D.; Seidleck, C. M.; Auden, E. C.; Weeden-Wright, S. L.; Gaspard, N. J.; Zhang, C. X.; Fleetwood, D. M. · IEEE Transactions on Nuclear Science · 2013