发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Oxygen Implanted Layers in Silicon Electrical and Microstructural Characterization

Oxygen Implanted Layers in Silicon Electrical and Microstructural Characterization

Varker, C. J.; Wilson, S. R.; Chan, S. S.; Whitfield, J. D.; Krause, S. J.

期刊名称MRS Proceedings
作者Varker, C. J.; Wilson, S. R.; Chan, S. S.; Whitfield, J. D.; Krause, S. J.
卷第45卷
电子ISSN1946-4274
文件大小1060.37KB
发表时间1985-1
DOI10.1557/proc-45-129

← 返回【学霸图书馆】主页