海量图书期刊资源,随时随地畅享阅读乐趣
Effect of doping on the Raman modes in MgO-doped lithium niobate crystalsL. J. Hu; Y. H. Chang; M. L. Hu; M. W. Chang; W. S. Tse · 1991
Radiative Decay toBai, J. Z.; Bian, J. G.; Chai, Z. W.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J. C.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Dong, L. Y.; Du, Z. Z.; Feng, S.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Guo, Z. J.; Han, S. W.; Han, Y.; He, J.; He, J. T.; He, M.; Hu, G. Y.; Hu, H. M.; Hu, J. L.; Hu, Q. H.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, J. D.; Huang, Y. Z.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Ke, Z. J.; Lai, Y. F.; Lang, P. F.; Li, C. G.; Li, D.; Li, H. B.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. N.; Liu, H. M.; Liu, J.; Liu, J. H.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Lu, F.; Lu, J. G.; Lu, J. Y.; Lu, L. C.; Luo, C. H.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Meng, X. C.; Nie, J.; Qi, N. D.; Qi, X. R.; Qian, C. D.; Qiu, J. F.; Qu, Y. H.; Que, Y. K.; Rong, G.; Shao, Y. Y.; Shen, B. W.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Song, X. F.; Sun, F.; Sun, H. S.; Tang, S. Q.; Tong, G. L.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, Meng; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, Y. Y.; Wei, C. L.; Wu, Y. G.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xie, Y.; Xie, Y. H.; Xiong, W. J.; Xu, C. C.; Xu, G. F.; Xue, S. T.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, J.; Yang, X. F.; Ye, M. H.; Ye, S. W.; Ye, Y. X.; Yi, K.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Y. H.; Yu, Z. Q.; Yu, Z. T.; Yuan, C. Z.; Yuan, Y.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, Dehong; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. L.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, Q. J.; Zhang, S. Q.; Zhang, X. Y.; Zhang, Y.; Zhang, Y. Y.; Zhao, D. X.; Zhao, H. W.; Zhao, J. W.; Zhao, M.; Zhao, W. R.; Zhao, Z. G.; Zheng, J. P.; Zheng, L. S.; Zheng, Z. P.; Zhou, G. P.; Zhou, H. S.; Zhou, L.; Zhu, Q. M.; Zhu, Y. C.; Zhu, Y. S.; Zhuang, B. A. · Physical Review Letters · 1998
DecaysBai, J. Z.; Bian, J. G.; Blum, I.; Chai, Z. W.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J.; Chen, J. C.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Ding, L. Y.; Dong, L. Y.; Du, Z. Z.; Dunwoodie, W.; Feng, S.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gratton, P.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Han, S. W.; Han, Y.; Harris, F. A.; He, J.; He, J. T.; He, M.; Hitlin, D. G.; Hu, G. Y.; Hu, H. M.; Hu, J. L.; Hu, Q. H.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, J. D.; Huang, Y. Z.; Izen, J. M.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Ke, Z. J.; Kelsey, M. H.; Kim, B. K.; Kong, D.; Lai, Y. F.; Lang, P. F.; Lankford, A.; Li, C. G.; Li, D.; Li, H. B.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. N.; Liu, H. M.; Liu, J.; Liu, J. H.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Lou, X. C.; Lowery, B.; Lu, F.; Lu, J. G.; Lu, J. Y.; Lu, L. C.; Luo, C. H.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Malchow, R.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Meng, X. C.; Nie, J.; Olsen, S. L.; Oyang, J.; Paluselli, D.; Pan, L. J.; Panetta, J.; Porter, F.; Qi, N. D.; Qi, X. R.; Qian, C. D.; Qiu, J. F.; Qu, Y. H.; Que, Y. K.; Rong, G.; Schernau, M.; Shao, Y. Y.; Shen, B. W.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Song, X. F.; Standifird, J.; Sun, F.; Sun, H. S.; Tang, S. Q.; Toki, W.; Tong, G. L.; Varner, G.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, Meng; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, Y. Y.; Weaver, M.; Wei, C. L.; Wu, Y. G.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xie, Y.; Xie, Y. H.; Xiong, W. J.; Xu, C. C.; Xu, G. F.; Xue, S. T.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, J.; Yang, W.; Yang, X. F.; Ye, M. H.; Ye, S. W.; Ye, Y. X.; Yi, K.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Y. H.; Yu, Z. Q.; Yu, Z. T.; Yuan, C. Z.; Yuan, Y.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, Dehong; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. L.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, Q. J.; Zhang, S. Q.; Zhang, X. Y.; Zhang, Y.; Zhang, Y. Y.; Zhao, D. X.; Zhao, H. W.; Z · Physical Review Letters · 1998
and γηBai, J. Z.; Bian, J. G.; Blum, I.; Chai, Z. W.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J.; Chen, J. C.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Ding, L. Y.; Dong, L. Y.; Du, Z. Z.; Dunwoodie, W.; Feng, S.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gratton, P.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Han, S. W.; Han, Y.; Harris, F. A.; He, J.; He, J. T.; He, M.; Hitlin, D. G.; Hu, G. Y.; Hu, H. M.; Hu, J. L.; Hu, Q. H.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, J. D.; Huang, Y. Z.; Izen, J. M.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Ke, Z. J.; Kelsey, M. H.; Kim, B. K.; Kong, D.; Lai, Y. F.; Lang, P. F.; Lankford, A.; Li, C. G.; Li, D.; Li, H. B.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. N.; Liu, H. M.; Liu, J.; Liu, J. H.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Lou, X. C.; Lowery, B.; Lu, F.; Lu, J. G.; Lu, J. Y.; Lu, L. C.; Luo, C. H.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Malchow, R.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Meng, X. C.; Nie, J.; Olsen, S. L.; Oyang, J.; Paluselli, D.; Pan, L. J.; Panetta, J.; Porter, F.; Qi, N. D.; Qi, X. R.; Qian, C. D.; Qiu, J. F.; Qu, Y. H.; Que, Y. K.; Rong, G.; Schernau, M.; Shao, Y. Y.; Shen, B. W.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Song, X. F.; Standifird, J.; Sun, F.; Sun, H. S.; Tang, S. Q.; Toki, W.; Tong, G. L.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, Meng; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, Y. Y.; Weaver, M.; Wei, C. L.; Wu, Y. G.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xie, Y.; Xie, Y. H.; Xiong, W. J.; Xu, C. C.; Xu, G. F.; Xue, S. T.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, J.; Yang, W.; Yang, X. F.; Ye, M. H.; Ye, S. W.; Ye, Y. X.; Yi, K.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Y. H.; Yu, Z. Q.; Yu, Z. T.; Yuan, C. Z.; Yuan, Y.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, Dehong; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. L.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, Q. J.; Zhang, S. Q.; Zhang, X. Y.; Zhang, Y.; Zhang, Y. Y.; Zhao, D. X.; Zhao, H. W.; Zhao, J. W.; · Physical Review D · 1998
Low-Roughness Plasma Etching of HgCdTe Masked with Patterned Silicon DioxideZ. H. Ye; W. D. Hu; W. T. Yin; J. Huang; C. Lin; X. N. Hu; R. J. Ding; X. S. Chen; W. Lu; L. He · 2011
annihilations at 4.03 GeVBai, J. Z.; Bian, J. G.; Blum, I.; Chai, Z. W.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J.; Chen, J. C.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Ding, L. Y.; Dong, L. Y.; Du, Z. Z.; Dunwoodie, W.; Feng, S.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gratton, P.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Han, S. W.; Han, Y.; Harris, F. A.; He, J.; He, J. T.; He, M.; Hitlin, D. G.; Hu, G. Y.; Hu, H. M.; Hu, J. L.; Hu, Q. H.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, J. D.; Huang, Y. Z.; Izen, J. M.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Ke, Z. J.; Kelsey, M. H.; Kim, B. K.; Kong, D.; Lai, Y. F.; Lang, P. F.; Lankford, A.; Li, C. G.; Li, D.; Li, H. B.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. N.; Liu, H. M.; Liu, J.; Liu, J. H.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Lou, X. C.; Lowery, B.; Lu, F.; Lu, J. G.; Lu, J. Y.; Lu, L. C.; Luo, C. H.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Malchow, R.; Mandelkern, M.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Meng, X. C.; Nie, J.; Olsen, S. L.; Oyang, J.; Paluselli, D.; Pan, L. J.; Panetta, J.; Porter, F.; Qi, N. D.; Qi, X. R.; Qian, C. D.; Qiu, J. F.; Qu, Y. H.; Que, Y. K.; Rong, G.; Schernau, M.; Schmid, B.; Schultz, J.; Shao, Y. Y.; Shen, B. W.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Song, X. F.; Standifird, J.; Stoker, D.; Sun, F.; Sun, H. S.; Tang, S. Q.; Toki, W.; Tong, G. L.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, Meng; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, Y. Y.; Weaver, M.; Wei, C. L.; Wu, Y. G.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xie, Y.; Xie, Y. H.; Xiong, W. J.; Xu, C. C.; Xu, G. F.; Xue, S. T.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, J.; Yang, W.; Yang, X. F.; Ye, M. H.; Ye, S. W.; Ye, Y. X.; Yi, K.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Y. H.; Yu, Z. Q.; Yu, Z. T.; Yuan, C. Z.; Yuan, Y.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, Dehong; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. L.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, Q. J.; Zhang, S. Q.; Zhang, X. Y.; Zhang, Y.; · Physical Review D · 1998
Book reviewsRichard Evans Schultes; J. P. Fulton; John W. Thieret; Richard Evans Schultes; Andre F. Clewell; Wm. T. Penfound; W. W. Jeffrey; Richard M. Klein; Richard M. Klein; Wm. T. Penfound; Lawrence Kaplan; John W. Thieret; William D. Reese; Eugene C. Ogden; Frank W. Gould; William D. Reese; Donovan S. Correll; Richard Evans Sciiultes; Richard Evans Schultes; Mildred E. Mathias; Richard Evans Schultes; Rtchard M. Klein; Richard Evans Schultes; Richard Evans Schultes; Charles T. Mason; Mildred E. Mathtas; John W. Thieret; Gordon Stuart Johnston; Áskell Löve; R. E. Schultes; Sigmond L. Solymosy; Laery W. Jones; Darrell Pratt; Hans R. Schmidt; Ralph L. Hossfeld; Philip L. Johnson; José Cuatrecasas; Adam F. Szczawinski; Ida K. Langman; M. L. Stiff; Shiu-Ying Hu; Eldon J. Gardneb · 1965
leptonic branching fraction viaBai, J. Z.; Bian, J. G.; Blum, I.; Chai, Z. W.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J.; Chen, J. C.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Ding, L. Y.; Dong, L. Y.; Du, Z. Z.; Dunwoodie, W.; Feng, S.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gratton, P.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Han, S. W.; Han, Y.; Harris, F. A.; He, J.; He, J. T.; He, M.; Hitlin, D. G.; Hu, G. Y.; Hu, H. M.; Hu, J. L.; Hu, Q. H.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, J. D.; Huang, Y. Z.; Izen, J. M.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Ke, Z. J.; Kelsey, M. H.; Kim, B. K.; Kong, D.; Lai, Y. F.; Lang, P. F.; Lankford, A.; Li, C. G.; Li, D.; Li, H. B.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. N.; Liu, H. M.; Liu, J.; Liu, J. H.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Lou, X. C.; Lowery, B.; Lu, F.; Lu, J. G.; Lu, J. Y.; Lu, L. C.; Luo, C. H.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Malchow, R.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Meng, X. C.; Nie, J.; Olsen, S. L.; Oyang, J.; Paluselli, D.; Pan, L. J.; Panetta, J.; Porter, F.; Qi, N. D.; Qi, X. R.; Qian, C. D.; Qiu, J. F.; Qu, Y. H.; Que, Y. K.; Rong, G.; Schernau, M.; Shao, Y. Y.; Shen, B. W.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Song, X. F.; Standifird, J.; Sun, F.; Sun, H. S.; Tang, S. Q.; Toki, W.; Tong, G. L.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, Meng; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, Y. Y.; Weaver, M.; Wei, C. L.; Wu, Y. G.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xie, Y.; Xie, Y. H.; Xiong, W. J.; Xu, C. C.; Xu, G. F.; Xue, S. T.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, J.; Yang, W.; Yang, X. F.; Ye, M. H.; Ye, S. W.; Ye, Y. X.; Yi, K.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Y. H.; Yu, Z. Q.; Yu, Z. T.; Yuan, C. Z.; Yuan, Y.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, Dehong; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. L.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, Q. J.; Zhang, S. Q.; Zhang, X. Y.; Zhang, Y.; Zhang, Y. Y.; Zhao, D. X.; Zhao, H. W.; Zhao, J. W.; · Physical Review D · 1998
Fabric StiffnessElder, H. M. · The Journal of The Textile Institute · 1984
EDITOR'S NOTEThe Journal of The Textile Institute · 1979
Variance–Draft RelationsBalasubramanian, N. · The Journal of The Textile Institute · 1975
EDITOR'S NOTEThe Journal of The Textile Institute · 1980
Journal Papers: Brief SummariesThe Journal of The Textile Institute · 1972
Statistics of Fatigue FailureHearle, J. W. S.; Wong, B. S. · The Journal of The Textile Institute · 1977
EDITOR'S NOTEThe Journal of The Textile Institute · 1977
CORRECTIONSThe Journal of The Textile Institute · 1981